하위 검사

연구분야 : B120500 사회과학 > 교육학 > 교육평가

클래스 : 기법/방식

DOI : https://doi.org/10.22877/skku.udct.82715

한자 : 下位檢査
영어 : subtest

d04-01 기법/방식

용어관계

관련용어

유형

관계명

관계속성

클래스명

용어명

N1:종류

hasKind (종류)

 

d04-01 기법/방식 기법/방식

웩슬러 개인지능검사 () [ 個人知能檢査 ]

hasKind (종류)

 

d04-01 기법/방식 기법/방식

웩슬러 아동용 지능검사 [ --兒童用知能檢査 ]

R1:개념적

RT (관련어)

 

d04-01 기법/방식 기법/방식

프로파일 분석 [ --分析 ]

R2:기능적

hasMeasurement (측정 기준/척도/지표)

 

 

하위 요인

R3:시간적

succeedes (선행(시대,현상))

 

b01-06 기능/역할 기능/역할

검사 [ 檢査 ]