스탠포드-비네 지능검사

연구분야 : B120500 사회과학 > 교육학 > 교육평가

클래스 : 기법/방식

DOI : https://doi.org/10.22877/skku.udct.91919

한자 : --知能檢査
영어 : The Stanford- Binet intelligence test

d04-01 기법/방식

용어관계

관련용어

유형

관계명

관계속성

클래스명

용어명

B3:개념

isInstanceOf (사례의 개념유형)

 

d04-01 기법/방식 기법/방식

지능 검사 [ 知能檢査 ]

R1:개념적

RT (관련어)

 

d03-04 지수/지표 지수/지표

비율 지능지수 () [ 比率知能指數 ]

RT (관련어)

 

d04-01 기법/방식 기법/방식

진로 성숙도 검사 [ 進路成熟度檢査 ]

RT (관련어)

 

d03-04 지수/지표 지수/지표

지능지수 () [ 知能指數 ]

RT (관련어)

 

d04-01 기법/방식 기법/방식

간편 지능 검사 [ 簡便知能檢査 ]

R2:기능적

isMeasurementOf (측정 방법/수단)

 

c01-04 능력/힘/에너지 능력/힘/에너지

기본 정신 능력 [ 基本精神能力 ]